美國Calmetrics元素鎘Cd/xx鍍層標(biāo)準(zhǔn)片用來為膜厚測(cè)試儀建立標(biāo)準(zhǔn)檔案的,同時(shí)也是檢驗(yàn)和校準(zhǔn)膜厚測(cè)試儀測(cè)試數(shù)據(jù)是否準(zhǔn)確的為一標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2023-09-07
品牌 | Calmetrics/美國 | 貨號(hào) | HxAl/xx |
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規(guī)格 | Cd 400uin/10um | 供貨周期 | 現(xiàn)貨 |
主要用途 | 校準(zhǔn)膜厚測(cè)試儀,建立標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試檔案 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子 |
品牌 | CALMETRICS | 貨期 | 現(xiàn)貨 |
用途 | 用于標(biāo)定X射線測(cè)厚儀 |
美國Calmetrics元素鎘Cd/xx鍍層標(biāo)準(zhǔn)片是用來為膜厚測(cè)試儀建立標(biāo)準(zhǔn)檔案的,同時(shí)也是檢驗(yàn)和校準(zhǔn)膜厚測(cè)試儀測(cè)試數(shù)據(jù)是否準(zhǔn)確的為一標(biāo)準(zhǔn)。它屬于易損易耗件,但是其的使用壽命卻與操作方法及存放環(huán)境息息相關(guān),若操作得當(dāng),小心保護(hù)且存放在干燥密封的皿器內(nèi),那么可大大延長(zhǎng)其的使用時(shí)間。膜厚標(biāo)準(zhǔn)片是膜厚測(cè)試儀(X射線鍍層測(cè)厚儀)*的。
美國Calmetrics元素鎘Cd/xx鍍層標(biāo)準(zhǔn)片實(shí)物圖片:
美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標(biāo)準(zhǔn)件及元素含量標(biāo)準(zhǔn)件,提供對(duì)標(biāo)準(zhǔn)件的校準(zhǔn)服務(wù),公司通過ISO/IEC 17025認(rèn)證。公司提供所有證書符合NIST(National Institute of Standards and Technology美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院)標(biāo)準(zhǔn)或ANSI(American National Standards Institute美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì))標(biāo)準(zhǔn)。其生產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)片質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好。
Calmetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于費(fèi)希爾Fischer、韓國ISP、日立Hitachi(包括:牛津儀器Oxford(CMI)、精工Seiko)熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測(cè)、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌的測(cè)厚儀。
X射線測(cè)厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片,雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。如:?jiǎn)五儗樱篈u/xx,雙鍍層:Au/Ni/xx,三鍍層:Au/Pd/Ni/xx,合金鍍層:Sn-Pb/xx,合金鍍層:Ni-P/xx。
鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于X射線類儀器的標(biāo)準(zhǔn)。市面上絕大多部分的手持式熒光儀的厚度標(biāo)準(zhǔn)件都來自于美國Calmetrics公司。
X射線標(biāo)準(zhǔn)片又叫膜厚儀校準(zhǔn)片或者薄膜片,專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀(膜厚儀)在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的儀器標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)量分析檔案。
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