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　　每一種X射線測厚儀都有一個臨界厚度，大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響;對試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉角處進行測量是不可靠的;試件的曲率對測量有影響，隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測量也是不可靠的;
 

　　基體金屬和涂層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大，粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同的位置上應增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙，還必須在未涂的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點，或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解去除涂層后，再校對儀器的零點;
 

　　X射線測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。X射線測厚儀是采用新的高性能、低功耗微處理器技術，基于超聲波測量原理，可以測量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對材料的聲速進行測量?？梢詫ιa(chǎn)設備中各種管道和壓力容器進行厚度測量，監(jiān)測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度，也可以對各種板材和各種加工零件作測量。
 

　　按超聲波脈沖反射原理設計的X射線測厚儀可對各種板材和各種加工零件作測量，也可以對生產(chǎn)設備中各種管道和壓力容器進行監(jiān)測，監(jiān)測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度。